[硬件产品讨论] 数据存放可靠性测试：英睿达P5顶不住一年

视频链接：[url]https://www.bilibili.com/video/BV1uF41187QW[/url]

省流：
全新盘写入测试:
大IO数据库写入测试(总量1T左右):
英睿达大量io操作时掉盘，其它盘均完成测试，之后英睿达测跑圈圈未出现问题


冷数据长时间测试:
150℃加速老化，模拟35℃环境下下存放半年:
数据校验均通过，但金士顿和英睿达掉速，对比老化之前的性能下降幅度:
英睿达性能下降12%
金士顿性能下降21%
其余盘并未明显有性能下降情况发生

模拟老化存放1年:
(仅测读取及文件校验)
英睿达严重掉速
英睿达性能下降71%
金士顿性能下降23%
三星性能下降7.3%
致钛性能下降7.5%
西数性能下降11.7%
铠侠性能下降14.4%
数据库IO测试(千万级):
(模拟老化之前平均37分钟，用时越小越好，英睿达除外)
金士顿 43分钟 耗时增加13.9%
三星 致钛 西数 铠侠在37分33秒到38分05秒内完成，耗时增
加均在3%内

模拟老化存放3年:
金士顿IO测试开始报错，淘汰
模拟老化存放5年:
三星 致钛 西数 铠侠存活
(仅测读取及文件校验)
三星性能下降11%
致钛性能下降9.6%
西数性能下降23.6%
铠侠性能下降13.2%
数据库IO测试(对比全新测试结果):
三星耗时41分23秒，用时增涨10.6%
致钛耗时41分38秒，用时增涨11.1%
西数用时46分11秒，用时增涨19.8%
铠侠用时46分15秒，用时增涨20%